HTOL（高溫工作壽命）是一種測試方法，旨在在較長時間內(nèi)對設(shè)備施加壓力，從而可以計算設(shè)備的長期可靠性。該測試適用于廣泛的元件制造應用，尤其是 IC 制造商，包括放大器、濾波器和收發(fā)器。該概念需要一個高功率信號源和一個射頻分配器系統(tǒng)，以在大量 DUT（被測設(shè)備）通道上并行分配測試信號，從而可以對可靠性進行統(tǒng)計上的計算。

HTOL-700-2700-1W 是一款現(xiàn)成的集成測試系統(tǒng)，專為 HTOL/老化測試應用而設(shè)計。完整的設(shè)置在一個標準的 19 英寸機柜中提供，能夠在 700-2700 MHz 頻段以 1W 的功率驅(qū)動 80 個并行 DUT。信號源可通過 USB 或以太網(wǎng)控制（支持 HTTP 和 Telnet 網(wǎng)絡(luò)協(xié)議）。提供完整的軟件支持，包括我們用于 Windows 的用戶友好的 GUI 應用程序和帶有 Windows 和 Linux 環(huán)境編程說明的完整 API。

• 完全集成的測試系統(tǒng)
• 80 個輸出通道
• 每通道 1W 飽和功率
• 覆蓋 700-2700 MHz 蜂窩頻段

電源：交流電源輸入（90-260 V，47-63 Hz）

工作溫度：0 至 +50 ºC

射頻連接器

控制板：前面板

連接器：SMA 母頭

數(shù)量：80

功能：被測設(shè)備連接

尺寸：19” (W) x 37U (H) x 20” (D)

高溫工作壽命 (HTOL)

大功率老化/射頻壓力測試

半導體/元件鑒定

大功率信號源和分配

EMC/EMI 測試