一種用于測量集成電路內(nèi)部節(jié)點電壓的高速、高輸入阻抗有源探針。輸入為1兆歐，分流0.1 pf，上升/下降時間為0.8 ns。該儀器具有全直流功能，可與任何示波器一起使用。MODEL 12C經(jīng)過特殊設(shè)計，當(dāng)與高輸入阻抗示波器結(jié)合使用時，信號衰減為10:1，而在50歐姆輸入時，信號衰減量為20:1。

MODEL 12C將承受大的輸入過電壓。已知的故障模式是探針端的意外斷裂或擠壓，可以很容易地更換?？商峁┐罅靠筛鼡Q探針頭，以滿足各種探測需求。

• 堅固、可靠和高速的MODEL 12C為集成電路提供了非常適中的負載。
• 它可以用于高速雙極、NMOS和CMOS電路的故障排除，甚至可以用于一些短保持時間的動態(tài)節(jié)點。
• 每個放大器都針對峰值性能和可靠性進行了單獨優(yōu)化。

產(chǎn)地：美國

輸入電容：0.1pf

輸入電阻：1.0兆歐

上升/下降時間：0.8ns

帶寬dc：至500 MHz

線性度：0.5%

電壓范圍：-10至+20V

增益精度：±3%

信號衰減

高輸入阻抗示波器：10到1

50歐姆輸入：20到1