ILT950-NIR光譜儀使用 256 像素線性 InGaAs 陣列，并提供高靈敏度和低噪聲模式，用于近紅外范圍內(nèi)的測量，可達 1700 納米（1.7 微米）。采樣速度僅為 1.06 毫秒/掃描，積分時間快至 10 µs ，可提供快速、準確的結(jié)果。

• 近紅外范圍 900-1750 nm
• NIST 可追溯
• 系統(tǒng)包括：

600 µm光纜

余弦校正擴散器

三腳架

ILT 的 SpectriLight 軟件

• 可與 ILT950光譜儀結(jié)合使用，以實現(xiàn) 250 - 1700 nm 的寬帶測量（需要分叉跳線。）

• 對稱 Czerny-Turner：50 毫米焦距
• 波長范圍：900 - 1750 nm
• 光柵：200 線/mm**
• 狹縫：50 µm **
• 分辨率：6-7納米
• 雜散光：< 1%
• 信號/噪聲 HS：2000:1
• 積分時間 HS：10 µs - 750 ms
• 信號/噪聲 LN：6000:1
• 積分時間 LN：10 µs - 8 秒
• 檢測器：InGaAs 線性陣列，256 像素，50 µ m x 500 µ m
• AD 轉(zhuǎn)換器：16 位，500kHz
• 接口：USB 2.0 高速
• 板載平均采樣速度：1.06 毫秒/掃描
• 數(shù)據(jù)傳輸速度：1.56 毫秒/掃描 (USB2)
• 電源：USB電源
• 尺寸：175 x 165 x 85 毫米
• 重量：2.2 公斤